RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 13, страницы 1663–1667 (Mi phts5646)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Особенности селективного роста наноколонн GaN на профилированных подложках $c$-сапфира различной геометрии

А. Н. Семенов, Д. В. Нечаев, С. И. Трошков, А. В. Нащекин, П. Н. Брунков, В. Н. Жмерик, С. В. Иванов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Исследованы особенности роста наноколонн GaN на профилированных подложках c-сапфира с регулярным массивом микроконусов, имеющих различные плотность и диаметр основания в диапазонах (1–5) $\cdot$ 10$^{7}$ см$^{-2}$ и 2.5–3.5 мкм соответственно. Изучена кинетика и определены режимы селективного роста одиночных наноколонн GaN с диаметром 30–100 нм на вершинах микроконусов при радикально меньших скоростях роста на их боковых гранях. Исследовано влияние геометрии микроконусов, температуры подложки, шероховатости исходной поверхности и присутствия индия в качестве сурфактанта на степень селективности роста.

Поступила в редакцию: 17.04.2018
Принята в печать: 25.04.2018

DOI: 10.21883/FTP.2018.13.46884.8894


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:13, 1770–1774

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024