RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 12, страницы 1503–1506 (Mi phts5668)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Аморфные, стеклообразные, органические полупроводники

Оценка температуры шнура тока, возникающего при переключении в халькогенидах системы GeSbTe

С. А. Фефелов, Л. П. Казакова, Н. А. Богословский, К. Д. Цэндин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Вольт-амперные характеристики тонкопленочных образцов системы GeSbTe измерены в режиме генератора тока. Исследованы осцилляции напряжения, наблюдающиеся после переключения. Показано, что эти осцилляции могут быть связаны с образованием горячего шнура тока и его постепенным остыванием. Сделаны оценки размера и температуры шнура тока. Показано, что характерная температура в шнуре тока соответствует температуре фазового перехода в кристаллическое состояние.

Поступила в редакцию: 07.06.2018
Принята в печать: 18.06.2018

DOI: 10.21883/FTP.2018.12.46765.8931


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:12, 1607–1610

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024