RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 7, страницы 718–722 (Mi phts5779)

Эта публикация цитируется в 12 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Электрические свойства гетероструктур $p$-NiO/$n$-Si на основе наноструктурированного кремния

Г. П. Пархоменко, М. Н. Солован, П. Д. Марьянчук

Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича

Аннотация: Методом химического травления сформированы кремниевые нанопроволоки на подложках $n$-Si. Изготовлены гетероструктуры $p$-NiO/$n$-Si методом реактивного магнетронного напыления. Построена энергетическая диаграмма исследуемых анизотипных гетероструктур $p$-NiO/$n$-Si в соответствии с моделью Андерсона. Измерены и проанализированы вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики. Установлены основные механизмы токопереноса через гетеропереход $p$-NiO/$n$-Si при прямых и обратных смещениях.

Поступила в редакцию: 11.04.2017
Принята в печать: 15.05.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.07.46041.8609


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:7, 859–863

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024