RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 5, страница 509 (Mi phts5835)

XXV International Symposium ''Nanostructures: Physics and Technology'', Saint Petersburg, June 26-30, 2017
Nanostructure Characterization

Optical properties of GaN nanowires grown by MBE on SiC/Si(111) hybrid substrate

I. V. Shtromabc, N. G. Filosofovc, V. F. Agekyanc, M. B. Smirnovc, A. Yu. Serovc, R. R. Reznikabd, K. E. Kudryavtseve, G. E. Cirlinabd

a St. Petersburg Academic University, Russian Academy of Sciences, 194021 St. Petersburg, Russia
b Institute for Analytical Instrumentation, Russian Academy of Sciences, 190103 St. Petersburg, Russia
c St. Petersburg State University, 199034 St. Petersburg, Russia
d ITMO University, 197101 St. Petersburg, Russia
e Institute for Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences, 603950 Nizhny Novgorod, Russia

Аннотация: The aim of this work is to demonstrate the fundamental possibility of Si-doped GaN nanowires growth on the buffer layer of silicon carbide on silicon substrate and to investigate the optical characteristics of this structures.

Язык публикации: английский


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:5, 602–604

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024