RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 3, страницы 322–326 (Mi phts5891)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Электронные свойства полупроводников

Глубокие центры радиационных дефектов в монокристаллах CdZnTe, созданные потоком быстрых нейтронов

С. В. Пляцко, Л. В. Рашковецкий

Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, г. Киев

Аннотация: Исследовано влияние потока быстрых нейтронов ($\Phi$ = 10$^{14}$-10$^{15}$ см$^{-2}$) на электрофизические и фотолюминесцентные свойства монокристаллов $p$-CdZnTe. Проведен изотермический отжиг ($T$ = 400–500 K) и определена энергия активации диссоциации радиационных дефектов, которая оказалась равной $E_{D}\approx$ 0.75 эВ.

Поступила в редакцию: 30.08.2017
Принята в печать: 05.09.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.03.45615.8373


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:3, 305–309

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024