RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 2, страницы 171–176 (Mi phts5912)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Электронные свойства полупроводников

Электрически активные состояния захвата и переноса заряда, обусловливающие медленную рекомбинацию в кристаллах бромида таллия при низких температурах

В. Кажукаускас, Р. Гарбачаускас, С. Савицки

Кафедра физики полупроводников и Институт прикладных исследований, Вильнюсский университет, Вильнюс, Литва

Аннотация: Исследовались образцы монокристаллов TlBr, выращенных по методу Бриджмена–Стокбаргера. Установлено, что при межзонном возбуждении светом при температурах ниже 200 K проявляются эффекты замороженной проводимости. При этом выявляются ярко выраженные сверхлинейные зависимости индуцированной (фото-) проводимости от напряженности приложенного электрического поля. Как свидетельствуют результаты исследования термостимулированной проводимости, эти явления могут быть связаны с заполнением ловушечных состояний с энергиями термической активации 0.08–0.12 эВ. Это состояние может быть снято в результате термического гашения при температурах $\gtrsim$ 180 K из-за опустошения заполненных после оптической генерации энергетических состояний с энергией активации 0.63–0.65 эВ.

Поступила в редакцию: 28.06.2017
Принята в печать: 05.07.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.02.45439.8672


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:2, 160–164

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024