RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2018, том 52, выпуск 2, страницы 280–284 (Mi phts5930)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Ионный синтез кристаллической фазы Ge в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$ при отжиге под высоким давлением

И. Е. Тысченкоa, Г. К. Кривякинa, В. А. Володинab

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет

Аннотация: Изучено зарождение фазы кристаллического германия в пленках SiO$_{x}$N$_{y}$, имплантированных ионами Ge$^{+}$ с энергией 55 кэВ дозами 2.1 $\cdot$ 10$^{15}$-1.7 $\cdot$ 10$^{16}$ см$^{-2}$, после отжига при температуре $T_{a}$ = 800–1300$^\circ$C при давлениях 1 бар и 1–12 кбар. Из анализа полосы комбинационного рассеяния света сделано заключение об увеличении размеров преципитатов аморфного германия под действием гидростатического сжатия при температуре 1000$^\circ$C. Рассеяние на оптических фононах, локализованных в нанокристаллах германия, наблюдалось лишь после отжига образцов с максимальным содержанием имплантированных атомов при температуре 1300$^\circ$C. В спектрах фотолюминесценции наблюдался пик при $\sim$730 нм, природа которого связывается с проявлением квантово-размерного эффекта в нанокристаллах размером $\sim$3 нм.

Поступила в редакцию: 20.03.2017
Принята в печать: 17.04.2017

DOI: 10.21883/FTP.2018.02.45457.8595


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2018, 52:2, 268–272

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024