RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 8, страницы 1146–1150 (Mi phts6084)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Квантовые точки InSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии на подложке InGaAsSb/GaSb

Л. А. Cокура, Я. А. Пархоменко, К. Д. Моисеев, В. Н. Неведомский, Н. А. Берт

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методом жидкофазной эпитаксии на поверхности эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb, изопериодного с подложкой GaSb(001), впервые сформированы квантовые точки InSb в интервале температур $T$ = 450–467$^\circ$C. Просвечивающая электронная микроскопия показала, что форма квантовой точки близка к усеченному конусу, а распределение их в ансамбле по высоте и размеру основания является монодисперсным. Крупные квантовые точки (размер основания $\sim$30–50 нм, высота 3 нм) имели специфический контраст на изображении в планарной геометрии с дифракционным контрастом, что указывало на присутствие дефектов несоответствия. Модификация химического состава рабочей поверхности подложки за счет нанесения эпитаксиального слоя In$_{0.25}$GaAsSb позволила в 3 раза увеличить плотность ансамбля (1 $\cdot$ 10$^{10}$ см$^{-2}$) квантовых точек InSb по сравнению с осаждением непосредственно на бинарное соединение GaSb.

Поступила в редакцию: 31.01.2017
Принята в печать: 15.02.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.08.44804.8533


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:8, 1101–1105

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024