RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 7, страницы 900–903 (Mi phts6094)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.

Термоэдс тонких пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$

М. В. Суслов, В. А. Комаров, А. В. Суслов

Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Представлены результаты исследования гальваномагнитных и термоэлектрических свойств тонких блочных пленок Bi$_{92}$Sb$_{8}$ и Bi$_{85}$Sb$_{15}$ на подложках из слюды и полиимида. Использованный метод измерения термоэдс позволил исследовать температурную зависимость термоэдс, не внося дополнительных деформаций в систему подложка-пленка. Обнаружено существенное различие температурных зависимостей гальваномагнитных свойств и термоэдс пленок на слюде и полиимиде. В рамках двухзонного приближения рассчитаны концентрации и подвижности свободных носителей заряда в пленках на слюде и полиимиде, а также уровни химического потенциала для электронов и дырок. Различие параметров носителей заряда в пленках на слюде и полиимиде связывается с деформациями в системе пленка-подложка.

Поступила в редакцию: 27.12.2016
Принята в печать: 12.01.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44637.23


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:7, 862–865

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024