Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки

Представлены результаты исследования поверхности пленок висмута толщинами 15–100 нм на слюдяной подложке методом атомно-силовой микроскопии. Установлен близкий к линейному характер зависимостей средней шероховатости поверхности и средней высоты фигуры роста от толщины пленки. Обнаружено увеличение среднего размера кристаллитов с увеличением толщины пленки, и выявлена слабая зависимость размера кристаллита от толщины при толщинах 27–70 нм.