RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 7, страницы 937–939 (Mi phts6104)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.

Электрохимические исследования процессов легирования медью слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)

М. А. Кретова, М. А. Коржуев, Е. С. Авилов

Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, Москва, Россия

Аннотация: Изучены процессы интеркаляции меди в ван-дер-ваальсовы (VdW) щели слоистых тройных сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$), изменяющие электрические, механические и другие физические свойства образцов. Обнаружено пропорциональное снижение концентрации интеркалированной меди $\Delta N_{\operatorname{Cu}}$ при уменьшении относительной объемной плотности щелей Ван-дер-Ваальса $D_{\operatorname{VdW}}=1/s$ с ростом слойности пакетов $s$, а также их толщины $\xi_{1}$ при изменении состава тройных сплавов.

Поступила в редакцию: 27.12.2016
Принята в печать: 12.01.2017

DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44647.33


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:7, 898–901

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024