RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 4, страница 569 (Mi phts6196)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Silicon nanowire array architecture for heterojunction electronics

M. M. Solovana, V. V. Brusb, A. I. Mostovyia, P. D. Mar'yanchuka, I. G. Orletskyia, T. T. Kovaliuka, S. L. Abashinc

a Department of Electronics and Energy Engeneering, Chernivtsi National University, Chernivtsi, Ukraine
b Institute for Silicon Photovoltaics, Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Berlin, Germany
c Department of Physics, National Aerospace University "Kharkiv Aviation Institute", Kharkiv, Ukraine

Аннотация: Photosensitive nanostructured heterojunctions $n$-TiN/$p$-Si were fabricated by means of titanium nitride thin films deposition ($n$-type conductivity) by the DC reactive magnetron sputtering onto nanostructured single crystal substrates of $p$-type Si (100).
The temperature dependencies of the height of the potential barrier and series resistance of the $n$-TiN/$p$-Si heterojunctions were investigated. The dominant current transport mechanisms through the heterojunctions under investigation were determined at forward and reverse bias.
The heterojunctions under investigation generate open-circuit voltage $V_{oc}$ = 0.8 V, short-circuit current $I_{sc}$ = 3.72 mA/cm$^2$ and fill factor $FF$ = 0.5 under illumination of 100 mW/сm$^2$.

Поступила в редакцию: 20.09.2016
Принята в печать: 29.09.2016

Язык публикации: английский

DOI: 10.21883/FTP.2017.04.44354.8407


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:4, 542–548

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024