RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 8, страницы 1009–1015 (Mi phts6377)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Влияние повышения плотности каскадов столкновений на эффективность генерации первичных смещений при ионной бомбардировке Si

К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Титов

Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Распределения по глубине структурных нарушений, создаваемых в процессе имплантации в кремний ионов P и PF$_{4}$ с энергиями от 0.6 до 3.2 кэВ/а.е.м., экспериментально получены в широком диапазоне доз при комнатной температуре. Установлено, что внедрение молекулярных ионов PF$_{4}$ во всех случаях приводит к формированию практически одномодальных профилей распределения дефектов, максимум которых примыкает к поверхности. Это явление связано с усилением эффективности генерации первичных смещений у поверхности мишени. В начальной части пробега молекулярных ионов имеет место перекрытие субкаскадов, генерируемых атомами – компонентами молекул, приводящее к нелинейным процессам в объединенных каскадах из-за высокой плотности в них атомных смещений. На основании анализа экспериментальных данных проведена количественная оценка усиления эффективности генерации первичных дефектов на каскадной стадии их формирования ионами PF$_{4}$ по сравнению с ионами P.

Поступила в редакцию: 27.01.2016
Принята в печать: 02.02.2016


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:8, 989–995

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024