RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 7, страницы 952–957 (Mi phts6419)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Оптические свойства $p$$i$$n$-структур на основе аморфного гидрогенизированного кремния с нанокристаллами кремния, сформированными с применением наносекундных лазерных отжигов

Г. К. Кривякинa, В. А. Володинab, С. А. Кочубейa, Г. Н. Камаевa, A. Purkrtc, Z. Remesc, R. Fajgard, T. H. Stuchlikovác, J. Stuchlikc

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
c Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Praha 6, Czech Republic
d Institute of Chemical Process Fundamentals of the CAS, Praha 6, Czech Republic

Аннотация: C применением импульсных лазерных отжигов в $i$-слоях $p$$i$$n$-структур на основе $a$-Si : H были сформированы нанокристаллы Si. Для импульсных воздействий применялся эксимерный лазер XeCl с длиной волны 308 нм, с длительностью импульса 15 нс. Плотность энергии лазерного излучения изменялась в пределах от 100 мДж/см$^{2}$ (ниже порога плавления) до 250 мДж/см$^{2}$ (выше порога плавления). Оценка размеров нанокристаллов проводилась из анализа спектров комбинационного рассеяния света с использованием модели локализации фононов, средний размер составил от 2.5 до 3.5 нм в зависимости от параметров лазерных воздействий. Созданные $p$$i$$n$-структуры обладали диодными ВАХ. Обнаружен сигнал электролюминесценции в ИК-диапазоне от $p$$i$$n$-структур с нанокристаллами Si, положение пика (0.9–1 эВ) варьировалось с параметрами лазерных воздействий. Излучательные переходы связаны, предположительно, с состояниями на границе нанокристалл/аморфная матрица. Предложенный подход может быть использован для создания светоизлучающих диодов на нетугоплавких подложках.

Поступила в редакцию: 28.12.2015
Принята в печать: 16.01.2016


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:7, 935–940

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024