RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 5, страницы 607–611 (Mi phts6459)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Атомные ступени на ультраплоской поверхности Si(111) при сублимации

С. В. Ситниковa, А. В. Латышевba, С. С. Косолобовa

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет

Аннотация: Методом сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии in situ проведены исследования кинетики атомных ступеней на ультраплоской поверхности кремния (111) при температурах 1050–1350$^\circ$C. Впервые экспериментально показано, что скорость смещения атомной ступени при сублимации нелинейным образом зависит от ширины прилегающей к ступени террасы. Установлено, что атомный механизм процессов массопереноса на поверхности кремния при температурах выше 1200$^\circ$C определяется зарождением и диффузией поверхностных вакансий, а не адсорбированных атомов кремния. Проведенные исследования позволили оценить энергию активации процесса растворения вакансии с поверхности в объем кремния, которая составила (4.3 $\pm$ 0.05) эВ.

Поступила в редакцию: 10.11.2015
Принята в печать: 16.11.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:5, 596–600

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024