RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2016, том 50, выпуск 5, страницы 668–673 (Mi phts6470)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Физика полупроводниковых приборов

Изотермические вольт-амперные характеристики высоковольных 4$H$-SiC JBS-диодов Шоттки

М. Е. Левинштейнa, П. А. Ивановa, Q. J. Zhangb, J. W. Palmourb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Cree Inc., USA

Аннотация: Прямые импульсные изотермические вольт-амперные характеристики 4$H$-SiC JBS с номинальным блокирующим напряжением 1700 В измерены в температурном диапазоне от -80$^\circ$C до + 90$^\circ$C (193–363 K) вплоть до значений плотностей тока $j$ $\sim$ 5600 А/см$^{2}$ при - 80$^\circ$C и 3000 А/см$^{2}$ при + 90$^\circ$C. При этих измерениях перегрев структуры по отношению к температуре окружающей среды $\Delta T$ не превышал нескольких градусов. При бо́льших значениях плотности тока наблюдается эффективная инжекция неосновных носителей (дырок) в базу структуры, сопровождающаяся появлением $S$-образного дифференциального сопротивления. Измерены также импульсные изотермические вольт-амперные характеристики при температуре 77 K.

Поступила в редакцию: 20.10.2015
Принята в печать: 26.10.2015


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2016, 50:5, 656–661

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024