Аннотация:
В сильно компенсированных образцах $p$-Si$\langle$Мn$\rangle$ при
освещении их светом из области фоточувствительности в присутствии
электрического поля обнаружена сложная динамика температурно-электрической
неустойчивости (ТЭН), включающая переход к динамическому хаосу и
автоколебательную бистабильность. Переход от регулярных автоколебаний
фототока к хаотическим осуществляется через цепочку бифуркаций удвоения
периода колебаний. Исследованы условия возникновения регулярных
и стохастических режимов, а также гистерезиса автоколебаний. Показана
возможность перевода кристалла из одного автоколебательного состояния
в другое в результате воздействия дополнительного импульса света. Проведено
сопоставление полученных данных с результатами исследования аналогичной
сложной динамики ТЭН в CdS.