RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1988, том 14, выпуск 8, страницы 727–731 (Mi pjtf2067)

Сканирующая микроскопия поверхности, использующая силы межатомного взаимодействия

С. И. Васильев, В. Б. Леонов, Ю. Н. Моисеев, В. И. Панов




Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024