RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Письма в Журнал технической физики
// Архив
Письма в ЖТФ,
1991
, том 17,
выпуск 17,
страницы
7–12
(Mi pjtf3958)
Исследование структуры тонких эпитаксиальных слоев CaF
$_{2}$
на Si (111) методами примесной фотолюминесценции и стоячих рентгеновских волн
Х. К. Альварес
,
А. Ю. Казимиров
,
М. В. Ковальчук
, А. Я. Крейнес
,
Н. С. Соколов
, Т. Ю. Фидченко
,
Н. Л. Яковлев
Полный текст:
PDF файл (516 kB)
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2024