RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1991, том 17, выпуск 17, страницы 7–12 (Mi pjtf3958)

Исследование структуры тонких эпитаксиальных слоев CaF$_{2}$ на Si (111) методами примесной фотолюминесценции и стоячих рентгеновских волн

Х. К. Альварес, А. Ю. Казимиров, М. В. Ковальчук, А. Я. Крейнес, Н. С. Соколов, Т. Ю. Фидченко, Н. Л. Яковлев




Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024