Способ формирования микроструктур в эпитаксиальных тонких пленках YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-\delta}$ без деградации свойств материала пленок

Е. В. Ильичев, Ю. И. Коваль, А. А. Иванов, А. П. Минушенков

Реферативные базы данных:

•