RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Письма в Журнал технической физики
// Архив
Письма в ЖТФ,
1987
, том 13,
выпуск 7,
страницы
385–388
(Mi pjtf452)
Новый метод исследования микронеоднородности локальных центров в высокоомных полупроводниковых материалах с использованием РЭМ
А. В. Говорков
,
Э. М. Омельяновский
,
А. Я. Поляков
,
В. И. Райхштейн
,
В. А. Фридман
Поступила в редакцию:
28.10.1986
Полный текст:
PDF файл (854 kB)
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2024