Топографическая диагностика амплитудно-фазовых искажений импульса накачки в полупроводниках

А. А. Бугаев, А. Б. Ваньков, Б. П. Захарченя

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, Ленинград

Поступила в редакцию: 26.01.1987

Реферативные базы данных:

•