Аннотация:
Моделируется эффект саморазогрева в наномасштабном беспереходном вертикальном полевом транзисторе, изготовленном на основе структур “кремний на изоляторе” с поперечным сечением базы транзистора в форме прямоугольника, трапеции и треугольника. Показано, что для рассматриваемых структур температура в середине транзистора ниже, чем по его боковым граням около истока и стока. Помимо этого при прочих одинаковых условиях температура решетки зависит также от формы поперечного сечения базы.
Ключевые слова:эффект саморазогрева, температура решетки, теплопроводность, беспереходный FinFET-транзистор.
Поступила в редакцию: 29.12.2020 Исправленный вариант: 08.03.2021 Принята в печать: 08.03.2021