RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 9, страницы 18–20 (Mi pjtf4797)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Метод количественного описания фиксированных гистологических образцов с помощью цифровой голографической микроскопии

А. В. Белашов, А. А. Жихорева

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Разработаны методы количественного описания фиксированных гистологических образцов на основе статистического анализа фазовых изображений, полученных с помощью цифровой голографической микроскопии. Предложенный подход позволяет проводить полностью автоматизированную обработку восстанавливаемых фазовых изображений и получать количественную информацию об оптических характеристиках и размерах структурных элементов ткани гистологического образца. Метод апробирован на трех гистологических образцах разных типов тканей: цилиарном цилиндрическом эпителии, эластичном хряще и печени.

Ключевые слова: голографическая микроскопия, фазовые изображения, гистологические образцы.

Поступила в редакцию: 02.12.2020
Исправленный вариант: 21.01.2021
Принята в печать: 03.02.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.09.50901.18641


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2021, 47:6, 428–431

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024