А. В. Мезин, А. Е. Ефимов, Д. О. Соловьева, И. С. Васкан, В. А. Олейников, К. Е. Мочалов, “Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии”, Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 6,страницы 23

Эта публикация цитируется в 1 статье

Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии

А. В. Мезин^a, А. Е. Ефимов^b, Д. О. Соловьева^a, И. С. Васкан^ac, В. А. Олейников^a, К. Е. Мочалов^a

^a Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
^b Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов им. акад. В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
^c Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный

Аннотация: Разработана, изготовлена и испытана система низкопрофильного СЗМ-дефлектометра (СЗМ — сканирующая зондовая микроскопия), позволяющая повысить апертуру подводимых объективов до рекордной на данный момент величины $NA$ = 0.75. Внедрение такой системы позволит существенно улучшить показатели оптических методик комбинированных систем СЗМ/оптическая микроспектроскопия.

Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, оптическая микроспектроскопия, корреляционная микроскопия, СЗМ-дефлектометр.

Поступила в редакцию: 09.10.2020
Исправленный вариант: 03.12.2020
Принята в печать: 03.12.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2021.06.50753.18577