RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 5, страницы 28–30 (Mi pjtf4841)

Роль кулоновского взаимодействия в дефектной модели барьера Шоттки

С. Ю. Давыдовa, О. В. Посредникb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»

Аннотация: Предложена модель барьера Шоттки, в которой на интерфейсе присутствуют димеры, состоящие из полупроводниковых дефектов и ближайших к ним атомов металла. Между электронами дефектов и металлических атомов включено короткодействующее кулоновское отталкивание. Получены аналитические выражения для чисел заполнения атомов и дефектов и высоты барьера Шоттки.

Ключевые слова: интерфейсный полупроводниковый дефект, интерфейсный атом металла, кулоновское отталкивание, числа заполнения.

Поступила в редакцию: 23.10.2020
Исправленный вариант: 21.11.2020
Принята в печать: 22.11.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2021.05.50673.18594


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2021, 47:3, 234–236

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024