С. В. Морозов, В. В. Уточкин, В. В. Румянцев, М. А. Фадеев, А. А. Разова, В. Я. Алешкин, В. И. Гавриленко, Н. Н. Михайлов, С. А. Дворецкий, “Экспресс-характеризация волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe с квазирелятивистcким законом дисперсии носителей методом спектроскопии фотолюминесценции при комнатной температуре”, Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 3,страницы 51

Эта публикация цитируется в 1 статье

Экспресс-характеризация волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe с квазирелятивистcким законом дисперсии носителей методом спектроскопии фотолюминесценции при комнатной температуре

С. В. Морозов^ab, В. В. Уточкин^a, В. В. Румянцев^a, М. А. Фадеев^a, А. А. Разова^a, В. Я. Алешкин^a, В. И. Гавриленко^a, Н. Н. Михайлов^c, С. А. Дворецкий^c

^a Институт физики микроструктур РАН – филиал ФГБНУ "ФИЦ Институт прикладной физики РАН", Нижний Новгород, Россия
^b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
^c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Предложена экспресс-методика характеризации узкозонных волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe, основанная на анализе их люминесцентного отклика при комнатной температуре. Обсуждаются преимущества и ограничения данной методики характеризации структур в сравнении с более детальными методами диагностики, предполагающими проведение измерений фотолюминесценции и фотопроводимости в широком температурном интервале.

Ключевые слова: HgCdTe, квантовые ямы, фотолюминесценция, стимулированное излучение.

Поступила в редакцию: 28.10.2020
Исправленный вариант: 30.10.2020
Принята в печать: 30.10.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2021.03.50578.18603