RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 24, страницы 3–6 (Mi pjtf4903)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Влияние давления при эпитаксии на свойства слоев GaN

А. В. Сахаровa, В. В. Лундинa, Е. Е. Заваринa, С. О. Усовb, П. Н. Брунковa, А. Ф. Цацульниковb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Проведено исследование выращивания слоев GaN методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений на сапфировых подложках при различных давлениях в реакторе, в том числе выше атмосферного. Показано, что эпитаксиальный рост при более высоком давлении не изменяет кристаллическое совершенство слоев, подвижность электронов и фоновое вхождение примесей, но приводит к формированию поверхности с меньшим латеральным масштабом неоднородностей. Давление при эпитаксии также влияет на соотношение интенсивностей краевых и примесных линий в спектре фотолюминесценции и токи утечки в обратносмещенном барьере Шоттки.

Ключевые слова: МОС-гидридная эпитаксия, нитриды III группы, морфология, люминесценция.

Поступила в редакцию: 18.08.2020
Исправленный вариант: 03.09.2020
Принята в печать: 03.09.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.24.50418.18517


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:12, 1211–1214

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024