RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 23, страницы 48–50 (Mi pjtf4928)

Выглаживание поверхности антимонида галлия

Р. В. Левин, И. В. Федоров, А. С. Власов, П. Н. Брунков, Б. В. Пушный

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Впервые представлены результаты исследования условий получения атомарно-гладкой поверхности подложек GaSb. Экспериментально показано, что можно улучшить качество поверхности образцов, изменяя условия отжига. Наименьшая шероховатость 1.3 nm получена при времени отжига 16 min при температуре 650$^\circ$C в потоке триметилсурьмы и H$_{2}$.

Ключевые слова: отжиг, подложка, GaSb, шероховатость, атомно-силовой микроскоп, фотолюминесценция.

Поступила в редакцию: 09.07.2019
Исправленный вариант: 25.08.2019
Принята в печать: 03.09.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2020.23.50350.17971


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:12, 1203–1205

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024