RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 22, страницы 27–30 (Mi pjtf4936)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Влияние параметров короткопериодной сверхрешетки InGaAs/InGaAlAs на эффективность фотолюминесценции

С. С. Рочасa, И. И. Новиковa, А. Г. Гладышевa, Е. С. Колодезныйa, А. В. Бабичевa, В. В. Андрюшкинa, В. Н. Неведомскийb, Д. В. Денисовc, Л. Я. Карачинскийa, А. Ю. Егоровd, В. Е. Бугровa

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
d ООО "Коннектор Оптикс", г. Санкт-Петербург

Аннотация: Представлены результаты исследования гетероструктур на основе короткопериодных сверхрешеток InGaAs/InGaAlAs, изготовленных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложке InP и предназначенных для использования в качестве активных областей для вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 1.3 $\mu$m. Проведены исследования изготовленных гетероструктур методами фотолюминесценции и рентгеновской дифракции. Показано, что изменение отношения толщины квантовой ямы и барьерного слоя сверхрешетки позволяет управляемо смещать положение пика фотолюминесценции для достижения лазерной генерации на длине волны 1.3 $\mu$m, при этом эффективность фотолюминесценции практически не меняется.

Ключевые слова: вертикально-излучающий лазер, активная область, сверхрешетка, квантовая яма, молекулярно-пучковая эпитаксия.

Поступила в редакцию: 11.06.2020
Исправленный вариант: 23.07.2020
Принята в печать: 04.08.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.22.50304.18421


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:11, 1128–1131

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024