RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 21, страницы 32–35 (Mi pjtf4951)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Селективный рост методом молекулярно-пучковой эпитаксии массивов нитевидных нанокристаллов GaN на процессированных SiO$_{x}$/Si-подложках

В. О. Гридчинa, К. П. Котлярa, Р. Р. Резникb, Л. Н. Дворецкаяa, А. В. Парфеньеваc, И. С. Мухинab, Г. Э. Цырлинabcde

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
e Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»

Аннотация: Продемонстрирована возможность селективного роста упорядоченных массивов нитевидных нанокристаллов GaN с помощью молекулярно-пучковой эпитаксии на процессированных методом фотолитографии по микросферическим линзам подложках SiO$_{x}$/Si без предварительного формирования затравочных слоев. Исследовано влияние температуры подложки на морфологические свойства полученных массивов нитевидных нанокристаллов. Экспериментально выявлены оптимальные ростовые параметры, обеспечивающие режим селективного роста нитевидных нанокристаллов GaN.

Ключевые слова: GaN, нитевидные нанокристаллы, молекулярно-пучковая эпитаксия, морфологические свойства, селективный рост, микросферная литография.

Поступила в редакцию: 13.07.2020
Исправленный вариант: 27.07.2020
Принята в печать: 27.07.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.21.50194.18463


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:11, 1080–1083

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024