А. В. Марченко, Е. И. Теруков, Ф. С. Насрединов, П. П. Серегин, “Локальная структура аморфных и кристаллических пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$”, Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 19,страницы 19

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Локальная структура аморфных и кристаллических пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$

А. В. Марченко^a, Е. И. Теруков^bc, Ф. С. Насрединов^d, П. П. Серегин^a

^a Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
^b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^c Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
^d Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Методом мессбауэровской спектроскопии на изотопах $^{119}$Sn,$^{121}$Sb и $^{125}$Te показано, что локальная структура атомов германия изменяется в процессе кристаллизации аморфных пленок Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$ (тетраэдрическая симметрия меняется на октаэдрическую), тогда как окружение атомов сурьмы и теллура не изменяется, причем для атомов сурьмы оно близко к таковому в соединении Sb$_{2}$Te$_{3}$.

Ключевые слова: фазовая память, Ge$_{2}$Sb$_{2}$Te$_{5}$, мессбауэровская спектроскопия.

Поступила в редакцию: 17.03.2020
Исправленный вариант: 17.03.2020
Принята в печать: 30.06.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.19.50038.18288