Аннотация:
Исследованы автоэмиссионные характеристики катодных матриц на основе нанокомпозитных алмазографитовых пленочных структур с упрочняющим туннельно-тонким алмазным покрытием. Показано, что автоэмиссионные характеристики не связаны с морфологией эмитирующей поверхности и не могут быть объяснены в рамках модели Фаулера и Нордгейма. Установлено влияние толщины алмазного покрытия на автоэмиссионные характеристики и электрическую прочность катодной гетероструктуры. Интерпретация полученных закономерностей основана на увеличении прозрачности потенциальных барьеров для туннелирования электронов за счет уменьшения сил зеркального изображения.