Анализ примесного состава синтетических HPHT-алмазов методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии в условиях лазерно-индуцированной модификации поверхности

Проведено исследование примесного состава многосекторных пластин азот- и борсодержащих синтетических НРHT-алмазов методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии. Показано, что сравнительный анализ интенсивностей характерных атомарных и молекулярных полос в спектре излучения плазмы в процессе лазерно-индуцированной модификации поверхности образцов позволяет различать как тип алмаза, так и кристаллографическую ориентацию анализируемого сектора образца.