Аннотация:
Представлен квантово-механический подход к анализу взаимодействия электромагнитного излучения со сверхтонкими проводящими пленками в частотном диапазоне 1–200 GHz. Показано, что при толщинах пленок менее 10 nm необходимо учитывать симметрию строения атомной решетки проводника, нарушение которой может привести к увеличению энергетического зазора между валентной зоной и зоной проводимости. Возникающая запрещенная зона оказывает сильное влияние на проводимость тонкой металлической пленки и на ее электродинамические характеристики при взаимодействии с СВЧ-излучением. На примере алюминия показано, что нарушение симметрии его гранецентрированной решетки приводит к образованию запрещенной зоны порядка 0.07 eV.