Аннотация:
Представлена единая аналитическая технология, основанная на интеграции сканирующей зондовой нанотомографии и оптической микроскопии (СЗНТ-ОМ) и продемонстрирован потенциал технологии на примере многопараметрического анализа кодируемых микросфер. Представленная технология СЗНТ-ОМ может стать мощным инструментом для мультимодальной нанохарактеризации широкого спектра микрочастиц, композитных и гибридных полимеров.