RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 5, страницы 23–26 (Mi pjtf5168)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Наноразмерный корреляционный анализ морфологической, оптической и магнитной структуры полимерных микросфер для мультиплексной диагностики

К. Е. Мочаловa, О. И. Агаповаb, А. Н. Генераловаa, И. С. Васканac, Д. О. Соловьеваa, В. А. Олейниковa, И. И. Агаповb, А. Е. Ефимовbd

a Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
b Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов им. акад. В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
c Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
d ООО "СНОТРА", Москва, Россия

Аннотация: Представлена единая аналитическая технология, основанная на интеграции сканирующей зондовой нанотомографии и оптической микроскопии (СЗНТ-ОМ) и продемонстрирован потенциал технологии на примере многопараметрического анализа кодируемых микросфер. Представленная технология СЗНТ-ОМ может стать мощным инструментом для мультимодальной нанохарактеризации широкого спектра микрочастиц, композитных и гибридных полимеров.

Ключевые слова: мультиплексный анализ, наночастицы, корреляционная нанотомография, флуоресцентная спектроскопия, магнитно-силовая микроскопия.

Поступила в редакцию: 07.11.2019
Исправленный вариант: 28.11.2019
Принята в печать: 28.11.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2020.05.49103.18103


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:3, 224–227

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024