RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 23, страницы 23–25 (Mi pjtf5250)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Деформация элементарной ячейки при прерывистом напылении пленок ниобата бария-стронция

Д. В. Стрюковa, А. В. Павленкоab

a Южный научный центр РАН, г. Ростов-на-Дону
b Южный федеральный университет, г. Ростов-на-Дону

Аннотация: Методом высокочастотного катодного распыления с применением технологии прерывистого напыления изготовлены эпитаксиальные тонкие пленки Sr$_{0.5}$Ba$_{0.5}$Nb$_{2}$O$_{6}$/MgO с различной толщиной слоев, но с одинаковой общей толщиной. Установлено, что уменьшение толщины слоя приводит к увеличению деформации элементарной ячейки, которая сохраняется, если толщина последующих слоев не превышает критическую.

Ключевые слова: сегнетоэлектрики, прерывистое напыление, деформации элементарной ячейки.

Поступила в редакцию: 18.07.2019
Исправленный вариант: 18.07.2019
Принята в печать: 26.08.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2019.23.48714.17988


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:12, 1191–1193

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024