RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 22, страницы 21–23 (Mi pjtf5262)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Спектральный сдвиг излучения квантово-каскадного лазера под действием управляющего напряжения

А. В. Бабичевa, Д. А. Пашневb, А. Г. Гладышевa, А. С. Курочкинa, Е. С. Колодезныйa, Л. Я. Карачинскийacd, И. И. Новиковacd, Д. В. Денисовe, L. Boulleyfgh, Д. А. Фирсовb, Л. Е. Воробьевb, Н. А. Пихтинd, A. Bousseksoufhg, А. Ю. Егоровa

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
c ООО "Коннектор Оптикс", г. Санкт-Петербург
d Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
e Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
f Paris-Sud University 11, France
g Université Paris-Saclay, France
h Centre National de la Recherche Scientifique, Paris, France

Аннотация: Продемонстрировано перераспределение интенсивностей коротковолновых и длинноволновых компонент в пределах полосы усиления в спектре генерации квантово-каскадного лазера спектрального диапазона 7–8 $\mu$m под действием управляющего напряжения. При увеличении напряжения с 10.5 до 18.2 V длина волны, соответствующая максимуму интенсивности лазерного излучения, смещается примерно на 200 nm. Максимальная ширина спектра генерации составляет порядка 300 nm (при температуре 80 K). Гетероструктура квантово-каскадного лазера выращена методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Использована конструкция активной области на основе двухфононной схемы опустошения нижнего уровня с применением гетеропары твердых растворов In$_{0.53}$Ga$_{0.47}$As/In$_{0.52}$Al$_{0.48}$As, согласованных по параметру кристаллической решетки с подложкой InP.

Ключевые слова: сверхрешетки, квантово-каскадный лазер, эпитаксия, фосфид индия.

Поступила в редакцию: 17.07.2019
Исправленный вариант: 23.07.2019
Принята в печать: 23.07.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2019.22.48643.17985


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:11, 1136–1139

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024