RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 18, страницы 3–5 (Mi pjtf5313)

Глубокая 3D-рентгенолитография на основе высококонтрастного рентгенорезиста

В. П. Назьмов

Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: В классической рентгеновской литографии рентгеновская маска и слой резиста располагаются перпендикулярно рентгеновскому лучу, который, поглощаясь в слое резиста, инициирует вдоль своего пути отклик в форме, соответствующей его поперечному сечению. Однако наклон и поворот маски/резиста, а также несколько экспозиций, проведенных последовательно, позволяют создать реальную трехмерную форму с точностью лучше микрометра. Описаны подходы к созданию реальных трехмерных микроструктур методом глубокой рентгеновской литографии, позволяющие формировать из них относительно большие массивы.

Ключевые слова: рентгеновская литография, двойное облучение, контрастность.

Поступила в редакцию: 17.05.2019
Исправленный вариант: 27.05.2019
Принята в печать: 03.06.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2019.18.48227.17879


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:9, 906–908

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024