Многопараметровый контроль многослойных структур импульсным вихретоковым методом

Предложена многопараметровая методика импульсного вихретокового контроля, позволяющая проводить раздельное количественное определение более семи параметров многослойных структур, содержащих магнитные составляющие. Продемонстрировано применение методики для контроля качества слабопроводящих магнитных покрытий и слоистых композиционных материалов, применяемых в аэрокосмической отрасли.