Аннотация:
Разработан метод численной оценки роста рекомбинационных потерь в кремниевых гетеропереходных солнечных элементах вследствие радиационного воздействия. Расчеты основаны на анализе экспериментальных значений токов короткого замыкания. Предложенная модель позволяет оценивать степень деградации полупроводниковых структур путем вычисления уменьшения объемного времени жизни и диффузионной длины носителей заряда. Полученные результаты имеют практическую ценность для изучения возможности эксплуатации данного типа солнечных элементов в космических условиях.
Поступила в редакцию: 28.11.2018 Исправленный вариант: 28.11.2018 Принята в печать: 05.12.2018