Аннотация:
На подложке r-среза сапфира методом высокочастотного магнетронного распыления реализованы структуры BaTiO$_{3}$/LaSrMnO$_{3}$ с толщиной сегнетоэлектрического слоя 10 nm. Структурные исследования показали наличие кристаллической фазы, электрофизические измерения выявили пьезоэлектрический отклик полученных пленок титаната бария. Результаты измерений локальных вольт-амперных характеристик демонстрируют зависимость сопротивления от истории приложения напряжения, обусловленную сегнетоэлектрическим гистерезисом пленки BaTiO$_{3}$.
Поступила в редакцию: 16.11.2018 Исправленный вариант: 16.11.2018 Принята в печать: 22.11.2018