RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 4, страницы 34–37 (Mi pjtf5532)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами

М. А. Муссаеваa, Э. М. Ибрагимоваab

a Институт ядерной физики АН Республики Узбекистан, г. Ташкент, пос. Улугбек
b Центр передовых технологий при Министерстве инновационного развития Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан

Аннотация: Методами электронной микроскопии и колебательных спектров исследованы наночастицы Li, сформированные на сколотой поверхности кристаллов LiF при облучении пучком электронов с энергией 4 MeV дозой 5$\cdot$10$^{16}$ cm$^{-2}$. Предполагается, что при интенсивном облучении в результате ионизации происходит радиолиз и удаление фтора по межблочным границам, где оставшиеся катионы лития нейтрализуются электронами и образуют наночастицы Li, которые собираются и взаимно ориентируются в микронити. Такая функциональная поверхность представляет практический интерес.

Поступила в редакцию: 12.11.2018
Исправленный вариант: 21.11.2018
Принята в печать: 21.11.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:2, 155–158

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024