Аннотация:
Предложен метод для оценки масштаба, на котором циркулируют токи в сверхпроводящих образцах. Оцененный циркуляционный радиус используется для определения плотности критического тока на основе магнитных измерений. Полученные формулы применимы для образцов с пренебрежимо малым размагничивающим фактором и поликристаллических сверхпроводников. Проверка метода проведена на экспериментальных петлях намагниченности поликристаллических сверхпроводников YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-\delta}$ и Bi$_{1.8}$Pb$_{0.3}$Sr$_{1.9}$Ca$_{2}$Cu$_{3}$O$_{x}$.