RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 23, страницы 146–157 (Mi pjtf5630)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Роль энергии фотонов возбуждения в динамике фотоиндуцированных носителей заряда в сверхрешеточных гетероструктурах InGaAs/InAlAs

А. М. Буряковa, Д. И. Хусяиновa, Е. Д. Мишинаa, Р. А. Хабибуллинbc, А. Э. Ячменевbc, Д. С. Пономаревbc

a МИРЭА — Российский технологический университет, г. Москва
b Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН, г. Москва
c Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Исследовано влияние энергии фотонов возбуждения на времена релаксации фотовозбужденных носителей заряда. Проведены оценка возникающих механизмов релаксации и анализ коэффициента отражения в сверхрешеточных гетероструктурах InGaAs/InAlAs. Построена модель изменения коэффициента отражения в барьерном слое InAlAs в зависимости от энергии фотонов возбуждения. Объяснено резонансное поведение коэффициента отражения.

Поступила в редакцию: 24.07.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2018.23.47022.17469


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:12, 1115–1119

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024