Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения

Рассмотрены различные методы измерения показателя ослабления излучения в оптических покрытиях. Показана возможность измерения безразмерного показателя ослабления излучения для покрытий, формирующихся из слабопоглощающих пленкообразующих материалов, с помощью приставки в виде призмы-параллелепипеда. Параметры данной приставки рассчитаны так, чтобы ее можно было разместить в стандартных спектрофотометрах.