RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 10, страницы 12–19 (Mi pjtf5800)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Исследование поверхностной проводимости двойного слоя таллия на Si(111) после адсорбции лития и рубидия

М. В. Рыжковаa, Е. А. Борисенкоa, М. В. Иванченкоab, Д. А. Цукановab, А. В. Зотовab, А. А. Саранинab

a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
b Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток

Аннотация: Представлены результаты исследования двойного слоя таллия Si(111)6 $\times$ 6–Tl после адсорбции лития и рубидия методом дифракции медленных электронов и четырехзондовым методом измерения проводимости. Обнаружены новые реконструкции: 5 $\times$ 1 и 5$\sqrt3\times5\sqrt3$ в случае адсорбции лития, 2 $\times$ 2 и $\sqrt3\times\sqrt3$ в случае адсорбции рубидия. Исследована поверхностная проводимость подложек кремния в зависимости от дозы осажденного вещества. Показано, что при формировании реконструкций и 5 $\times$ 1 и 2 $\times$ 2 на поверхности подложки сохраняются проводящие свойства двумерного канала, образованного двойным слоем таллия.

Поступила в редакцию: 19.01.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2018.10.46094.17220


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:5, 412–415

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024