Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках

Предлагается метод определения числа дефектов, возникающих под воздействием сжимающих и растягивающих напряжений при изгибе тонких прозрачных проводящих покрытий на полимерных подложках. Алгоритм определения основан на использовании математических методов искусственных нейронных сетей. Сеть натренирована на расчет средней плотности дефектов на единицу длины при входных параметрах, соответствующих размерам пленки и подложки, поверхностному сопротивлению проводящего покрытия и радиусу изгиба. Применение метода позволяет определить среднюю плотность дефектов с высокой точностью.