RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 8, страницы 93–101 (Mi pjtf5836)

Масс-спектрометрия молекулы ксилита

А. Н. Завилопуло, О. Б. Шпеник, О. В. Пилипчинец

Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина

Аннотация: Описаны методика и результаты масс-спектрометрических исследований выхода положительных ионов, образованных в результате прямой и диссоциативной ионизаций молекул ксилита электронным ударом. В диапазоне массовых чисел 1–170 Da и в интервале энергий бомбардирующих электронов 5–80 eV исследовались масс-спектры молекулы ксилита при разных температурах. Впервые, исходя из энергетических зависимостей эффективных сечений образования ионов при бомбардировке электронным ударом определены энергии появления ионов-фрагментов и исследована динамика ударом, ионов-фрагментов ксилита в интервале температур испарения исходного вещества 340–400 K.

Поступила в редакцию: 06.04.2017

DOI: 10.21883/PJTF.2018.08.45972.16817


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:4, 358–361

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024