RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 6, страницы 50–58 (Mi pjtf5856)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Электронная структура наноинтерфейса Cs/$n$-GaN(0001)

Г. В. Бенеманскаяa, М. Н. Лапушкинa, Д. Е. Марченкоb, С. Н. Тимошневc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie, Elektronenspeicherring BESSY II, Berlin, Germany
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Впервые проведены фотоэмиссионные исследования методом фотоэлектронной спектроскопии in situ электронной структуры поверхности $n$-GaN(0001) и интерфейса Cs/$n$-GaN(0001) в диапазоне субмонослойных Cs-покрытий. Изучены спектры фотоэмиссии из валентной зоны, спектры поверхностных состояний и остовных уровней Ga 3$d$, Cs 4$d$ и Cs 5$p$ при синхротронном возбуждении в диапазоне энергий фотонов 50–150 eV. Обнаружена эволюция спектра поверхностных состояний вблизи максимума валентной зоны при адсорбции атомов Cs. Показан металлический характер наноинтерфейса Cs/$n$-GaN(0001).

Поступила в редакцию: 23.05.2017

DOI: 10.21883/PJTF.2018.06.45767.16885


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:3, 247–250

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024